服务简介
光电特性测试主要用于在芯片研发过程中对其光谱、直流、高频光电等性能进行表征。国家信息光电子创新中心特性测试系统拥有芯片测试台、110G LCA，可调谐激光器，电压源表、光放大器、光衰减器等先进设备，可提供各类光通信用调制器、探测器、激光器、DRIVER、TIA等芯片的光谱特性、S参数及带宽测试服务，测试频率最高可达110GHz，为目前行业内最高水平。系统已应用于创新中心自研硅光芯片的测试验证，并为国内高校、光电子芯片和器件厂商提供测试服务。
高带宽光电矢量网络性能测试
- 支持10M-110GHz光电带宽的测试
- 支持四端口测试
- 支持S参数、增益压缩、THD测试
- 动态范围＞100dB
- 接收端底噪＜-100dB
- 幅度波动＜0.04dB，相位波动＜1.5°
- 中频带宽：1Hz~15MHz
激光器噪声特性分析
- 支持O波段和C波段波长范围
- 激光器相对强度噪声分析：0-100MHz&100MHz-40GHz
- 激光器线宽特性测量
- 光频率噪声测试带宽：5Hz-80MHz
- 光频率噪声灵敏度： 0.6mHz-rms2/Hz，测试时间小于0.5秒
LCR 性能测试
- 支持20 Hz 至 2 MHz内能提供 4 位分辨率
- 0.05% 的基本测量准确度
- 内置40V直流偏置
- 测试速度：5.6ms
高速眼图性能测试
- 65GHz 光端口
- 95GHz 电端口
- 采样率：250KSa/s
- 光口光波长范围：1250~1600nm
- 支持NRZ、PAM-4、 PAM-6、 PAM-8信号格式
- 支持Outer OMA/ Outer ER/TDECQ测试
- 支持CTLE/FFE等均衡和嵌入/去嵌入功能
- 最大支持速率＞140G baud
相干光信号分析
- 相干信号检测分析
- 70GHz电端口
- 110GHz光端口
- 采样率：256GSa/s
- ADC位数：10-bit
- 最大支持速率＞140G baud
- 支持星座图、眼图、误码率等测试功能
高速误码测试
- 支持4通道112G PAM4和64GNRZ 误码检测
- 输出摆幅70mVpp到800mVpp（单端），140mVpp到1600mVpp（差分）
- 支持SSPRQ,PRBS13Q,PRBS31Q,RS-FEC等码型
- 支持注入MSB、LSB等误码
- 上升下降时间：8.5ps
- 随机抖动：170 fs rms
高精度光谱分析
- 测试波长范围： 1265~1345nm&1520~1630nm
- 最高分辨率：5MHz（0.04pm）
- 动态范围：83dB@C+L band，79dB@O band
- 波长精确度：+/-2pm
- 功率精确度：+/-0.3dB
